석사과정 교육연수비 정부재정사업 최고액 지급
이수구분 | 과정 | 교과목명(국문) | 교과목명(영문) |
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기초공통 | 석·박 | 연구방법론 | Research Methodology |
석·박 | 영어논문 작성 및 발표 | English paper writing and presentation | |
석·박 | 연구설계와 통계적 방법 | Research design and statistical methods | |
전공공통 (물리학+연구장비개발학) |
석·박 | 양자물리학Ⅰ | Quantum PhysicsⅠ |
석·박 | 고전전자기학Ⅰ | Classical ElectromagneticsⅠ | |
석·박 | 고전역학 | Classical Mechanics | |
석사 | 양자다체론 | Quantum Many-Body Theory | |
박사 | 고급통계물리학 | Advanced Statistical Physics | |
석·박 | 현미경 개론 | Introduction to Microscopy | |
석·박 | 광학개론 | Introduction to Optics | |
석·박 | 장비개발프로젝트Ⅱ | Instrument Development Project II | |
연구과제 | 석사 | 연구윤리 및 연구과제 Ⅰ | Research Ethics & Research Project Ⅰ |
박사 | 연구윤리 및 연구과제 Ⅱ | Research Ethics & Research Project Ⅱ | |
전공심화 | 석·박 | 장비개발요소 | Essential Elements for Instrument Development |
석·박 | 광학장비기초 | Introduction to Optical Instruments | |
석·박 | 분광장비기초 | Introduction to Spectroscopy | |
석·박 | 고급분광장비 | Advanced Spectroscopy | |
석·박 | 초고속레이저 응용 | Applications of Ultrafast Lasers | |
석·박 | 첨단 광학장비 | Advanced Optical Instruments | |
석·박 | 광 전산 시늉 | Optical Design and Simulation | |
석·박 | 첨단 광학재료 | Advanced Optical Materials | |
석·박 | 탐침현미경 | Scanning Probe Microscopy | |
석·박 | 전자현미경 | Scanning Electron Microscopy | |
석·박 | 전자빔동력학 | Electron Beam Dynamics | |
석·박 | 영상분석 | Image Analysis | |
석·박 | 동적 원자힘 현미경 | Dynamic Atomic Force Microscopy | |
석·박 | 고급영상분석 | Advanced Image Analysis | |
석·박 | 고급나노현미경 | Advanced Nano-Microscopy | |
석·박 | 고급전자현미경 | Advanced Scanning Electron Microscopy | |
석·박 | 전자빔광원 | Electron Beam Source | |
석·박 | 질량분석개론 | Introduction to Mass Spectroscopy | |
석·박 | 분석장비를 위한 대전입자빔 장비학 | Development of charged particle beam for Instruments | |
석·박 | 고급질량분석 | Advanced Mass Spectroscopy | |
석·박 | 질량분석 장비요소기술 | Essential Elements for Mass Spectroscopy | |
석·박 | 첨단 질량분석 | Recent Progress in Mass Spectroscopy | |
석·박 | 물성분석개론 | Introduction to Physical Property Analysis | |
석·박 | 자기물성측정 | Magnetic Property Measurements | |
석·박 | 물성분석장비 | Physical Property Analysis Instruments | |
석·박 | 고급물성분석 | Advanced Physical Property Analysis | |
석·박 | 물성분석측정 | Physical Property Measurement | |
석·박 | 열물성측정 | Thermal Property Measurement | |
석·박 | 전기물성측정 | Electrical Property Measurement | |
석·박 | 극저온물성측정 | Low Temperature Physical Property Measurement | |
석·박 | 장비자동화 | Physical Property Measurement | |
석·박 | 인턴쉽 Ⅰ | Internship Ⅰ | |
석·박 | 인턴쉽 Ⅱ | Internship Ⅱ | |
석·박 | 산학특강 | Industry-Academia Seminars | |
석·박 | 장비개발프로젝트 Ⅰ | Instrument Development ProjectⅠ | |
석·박 | 검출기 특론 | Special Topics for Detectors | |
석·박 | 제어 및 계측 | Control and Measurements | |
석·박 | 연구장비 S/W 개발 및 시뮬레이션 | Development of Softwares and Simulations | |
석·박 | 진공 | Vacuum | |
석·박 | 박막증착 | Thin film Deposition |